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テクマトリックス、産総研と世界初のテスト設計技法の共同研究を開始

日付

2013.08.21

カテゴリ

  • ソフトウェア品質保証

テクマトリックス株式会社は、独立行政法人産業技術総合研究所セキュアシステム研究部門と共同で、システムテスト向けのテスト設計技法の実適用に関する研究を開始しました。
研究の対象となるのは、産総研が世界に先駆けて開発しているテスト設計技術FOT(Feature-Oriented Testing)の支援技術、および、これらの技術をシナリオレベルまで拡張したテストケース生成技術です。

組込み用のマイコンなどコンピュータを組込んだシステム(組込みシステム)は、社会を支える基盤として、あらゆる機器に搭載されています。このシステムが動作不良を起こすと、社会に計り知れないダメージを与え、社会の安心安全の基盤を揺るがすことに繋がります。これを防止するために、組込みシステムの品 質保証には、多大な開発コストが投入されています。一例として、近年IC カードや携帯電話をかざして全国の駅改札を通ることができるようになり利便性が向上しましたが、読み取る側の改札機には、百を超える機能が搭載されました。社会的影響を生じやすい駅務機器は、不具合を極限まで取り除くために、各機能につき数百〜数万のテストケースからなる動作の検証を必要とします。実際に、膨大なテストケースが作成されて動作テストが実行されているものの、短納期・低コスト開発の圧力は増々強まっています。こうした、相互に矛盾した問題の解決策の1 つが、無駄や漏れが最少化された効率的なテストケースの作成です。FOT は、組合せテスト技術とテスト設計技術を融合して、コストに見合う、最適な量のテスト生成とテスト抽出を可能にします。

今後、テクマトリックス株式会社と産総研は、テスト設計技法を実プロジェクトに適用し、プロジェクト内での運用技術を共同で研究していきます。同時に、FOT の技術をシナリオテストのレベルまで拡張したテスト技術の共同研究も併せて行ってまいります。
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